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半導体再生後の検査

半導体再生後の検査が可能になりました!

CloudTesting? Serviceがオンデマンドで提供しているサービスを利用してお客様のお困りを解決致します。従来のリワーク、リボール作業は、物理的な検査後、再実装、実機確認という流れでしたが、今般当社では、実装前に小型テスト端末CX1000を活用して電気特性チェックを実施して、再実装後の不良を限りなく、低減致します。

  1. メモリデバイスの動作不良でのお困りを解決
  2. メモリデバイスの取り外し、電気的特性チェック
    (オープン・ショートチェック(断線、短絡確認))
  3. メモリデバイスの機能チェック、動作マージンチェック
  4. 再実装についてもお気軽にお問合せ下さい!!

電気特性チェック用小型テスト端末
電気特性チェック用小型テスト端末

測定器CX1000D

測定器CX1000D

測定基板

測定基板

概要

基板に実装されたデバイスを取り外し、電気的特性をチェック

簡易チェック・断線・短絡確認
・DCテストユニットを利用して電圧を測定
動作チェック・メモリの機能確認
・パターン発生器を利用してメモリの全セルにデータを書き込み&読出しを実施
SPECチェック・メモリデバイスの全SPEC確認
・DPS、DCユニット、パターン発生器を利用して消費電流測定、出力電圧測定
マージンチェック・デバイスの動作マージンを確認
・メニューを細分化して低コスト、短納期で対応可能
測定中写真

測定中写真

測定中写真

測定中写真

測定中写真エラー時

測定中写真エラー時

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